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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-橢偏儀系列-光譜橢偏儀-SE-VF 光譜橢偏儀
簡要描述：針對微區(qū)圖形結(jié)構(gòu)測量定制的專用型光譜橢偏儀
產(chǎn)品型號： 更新時間：2025-04-27 瀏覽次數(shù)：4140
廠家實力
Manufacturer Strength
有效保修
Valid Warranty
質(zhì)量保障
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PRODUCT CATEGORY
詳細介紹
一、概述
SE-m 是一款針對半導體行業(yè)定制的微區(qū)圖形結(jié)構(gòu)測量的專用型光譜橢偏儀，其采用 1 超小微光斑探測測量技術， 2 定制超快測量速度等技術。可應用透明各類襯底上的減反膜、導電膜等薄膜的n/k/d測量，適用于微區(qū)圖形的各種光學參數(shù)解析。
二、特色功能
■ 可定制光斑尺寸，最小可達30um；
■ 超快測量，單次測量時間小于0.5秒 ；
■ 系列配置靈活，支持功能定制設計；
■ 結(jié)構(gòu)緊湊，更適應在線集成測量。
三、測量實例
微區(qū)圖形結(jié)構(gòu)測量
四、應用場景
應用于光學常數(shù)測量，適用于各類光學薄膜等鍍膜檢測應用。
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